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    首页»供应»LED/OLED » OLED应用»FA失交效分析探针台
  • FA失交效分析探针台

  • ¥1.00元/台
  • 起订量:1台
  • 可售数量:100台
  • 发布时间:2018-08-01产品供应时间:长期有效
  • 所在地:广东深圳市

    企业类型:企业单位

    公司地址:深圳市宝安区西比乡恒丰工业城C1栋3楼

    联系人:朱秋苑 ( )
    手机:13530351426
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  • 品牌:semishare
  • 所属分类:LED/OLED » OLED应用
  • 计量单位:台
  • 最小起订量:1台
  • 供货总量:100台
  • 发货期限:自买家付款之日起30天内发货
  • FA失交效分析探针台


    失效分析探针台

    规格  FA-8  FA-8-SC

    外形  960mm长*850mm宽*1500mm高  880mm长*860mm宽*1550mm高

    重量  约260KG  约280KG

    电力需求  220VC,50~60Hz

    样品台  尺寸  8英寸,可360度旋转

    行程  X-Y行程8*8英寸

    移动精度  1um

    样品固定方式  真空吸附  真空吸附

    温控范围  -  ﹣80~200℃

    快速拉出  -  有

    特殊运用  电学独立悬空,可作为背电极使用

    针座平台  规格  U型平台,最多可放置10个针座  O型平台,最多可放置12个针座

    行程&调节方式  平台可以快速升降,行程 6mm并带自动锁定功能;可以上下微调,行程25mm,升降精度1um

    光学特性  显微镜行程  X-Y轴行程2英寸*2英寸,Z轴:50.8mm  X-Y轴行程1英寸*1英寸,Z轴:50.8mm

    放大倍数  20~4000X

    镜头切换时操作  快速倾仰  气动升降

    CCD像素  50W(模拟)/200W(数字)/500W(数字)  50W(模拟)/200W(数字)/500W(数字)

    激光特性  波段  波长可选择1064/532/355/266nm波段

    功率  输出功率2.2mJ/pulse

    微加工能力  可加工材质:Cr/Al/ITO/Ni/TFT/RGB/Poly Silicon/Mo/SiN/CF内杂质等

    精度  最小可加工精度1*1um(配置100X镜头时)

    冷却方式  可选择风冷激光或水冷激光

    点针规格  X-Y-Z行程  12mm-12mm-12mm/8mm-8mm-8mm

    机械精度  2微米/0.7微米/0.1微米

    漏电精度  10pA/100fA     (配置屏蔽箱时)

    接口形式  香蕉头/鳄鱼夹/同轴/叁轴接口

    可选附件  卡盘快速拉出装置  卡盘快速拉出装置

    液晶热点侦测套装  液晶热点侦测套装

    高压/大电流测试套装  高压/大电流测试套装

    加热台  -

    屏蔽箱  屏蔽箱

    转接头  转接头

    防震台  防震台

    镀金卡盘  镀金卡盘

    同轴叁轴卡盘  同轴叁轴卡盘

    样品台快速升降,微调升降装置选件  -

    光强/波长测试选件  光强/波长测试选件

    射频测试附件  射频测试附件

    有源探头  有源探头

    低电流/电容测试  低电流/电容测试

    光纤夹具耦合测试选件  光纤夹具耦合测试选件

    封装器件夹具  封装器件夹具

    PCB/封装夹具测试选件  PCB/封装夹具测试选件

    特殊定制  特殊定制

    应用方向  常温和高低温环境下的芯片失效分析


    特点

    失效分析实验室专用  大手柄驱动,操作舒适,无回程差设计,定位准确

    可做LC液晶热点侦测  激光最小可加工精度1*1um

    激光可选择性去除特定材料而不损伤下层  芯片内部线路/电极/PAD测试

    适用于IC/面板内部线路修改/去层  射频特性器件失效分析

    可升级用于12英寸以内样品测试  材料/器件的IV/CV特性测试及失效分析


    关键词:FA失交效分析探针台,供应,LED/OLED,OLED应用

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